![法特迪精密科技(苏州)有限公司](http://img.czvv.com/logo/588483e60cf21ba3b49f6b4f/588483e60cf21ba3b49f6b4f.png)
法特迪精密科技(苏州)有限公司 main business:设计、研发、生产、销售及维修:半导体测试设备、测量仪器仪表及软件、测试插座、探针、探针卡及接口产品;从事上述货物与技术的进出口业务,并提供相关的技术咨询和服务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动) and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
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- 320594000295232
- 91320594091546438H
- 在业
- 有限责任公司
- 2014年02月11日
- 王军
- 1000万元人民币
- 2014年02月11日 至 永久
- 苏州工业园区市场监督管理局
- 2016年09月18日
- 苏州工业园区东长路18号3幢103室
- 设计、研发、生产、销售及维修:半导体测试设备、测量仪器仪表及软件、测试插座、探针、探针卡及接口产品;从事上述货物与技术的进出口业务,并提供相关的技术咨询和服务。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
类型 | 名称 | 网址 |
网站 | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 | http://www.ftdevice.com |
网站 | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 | www.ftdevice.com |
序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
1 | CN104155490B | 可自动定位芯片的半导体芯片测试插座 | 2017.01.11 | 本发明公开了一种可自动定位芯片的半导体芯片测试插座,包括测试座和测试盖,所述测试盖设置于测试座上方, |
2 | CN205301367U | 新型连接测试座 | 2016.06.08 | 本实用新型公开了一种新型连接测试座,包括探针保持板、芯片插座主体、测试探针,所述探针保持板的下端面设 |
3 | CN205139319U | 大电流半导体测试座 | 2016.04.06 | 本实用新型公开了一种大电流半导体测试座,包括探针保持板、芯片插座主体及探针,所述芯片插座主体与探针保 |
4 | CN205139189U | 用于无磁插座的测试探针 | 2016.04.06 | 本实用新型公开了一种用于无磁插座的测试探针包括筒状针保持体、上探针头、下探针头以及弹簧,下探针头通过 |
5 | CN204473959U | 自动卷盘卷料机 | 2015.07.15 | 本实用新型公开了一种自动卷盘卷料机,包括卷盘自动装、卸装置,所述自动装、卸装置包括一个真空吸盘手臂装 |
6 | CN204479617U | 用于芯片大规模量产测试的测试连接座 | 2015.07.15 | 本实用新型公开了一种用于芯片大规模量产测试的测试连接座,包括上下设置且相互分离的测试座主体部件(2) |
7 | CN204177828U | 可自动定位芯片的半导体芯片测试插座 | 2015.02.25 | 本实用新型公开了一种可自动定位芯片的半导体芯片测试插座,包括测试座和测试盖,所述测试盖设置于测试座上 |
8 | CN204177922U | 防粘料吹气式集成电路测试治具 | 2015.02.25 | 本实用新型公开了一种防粘料吹气式集成电路测试治具,由盖子主体、芯片压板、空气压块和复位弹簧组成。所述 |
9 | CN204177830U | 多工位自动定位测试插座 | 2015.02.25 | 一种多工位自动定位测试插座;包括一测试座,所述测试座内设有若干测试位,还包括一测试盖;所述测试座内设 |
10 | CN104155490A | 可自动定位芯片的半导体芯片测试插座 | 2014.11.19 | 本发明公开了一种可自动定位芯片的半导体芯片测试插座,包括测试座和测试盖,所述测试盖设置于测试座上方, |
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